[صفحه اصلی ]   [Archive] [ English ]  
:: صفحه اصلي :: درباره نشريه :: آخرين شماره :: تمام شماره‌ها :: جستجو :: ثبت نام :: ارسال مقاله :: تماس با ما ::
بخش‌های اصلی
صفحه اصلی
آرشیو مجله و مقالات
کلیه شماره‌های مجله
آخرین شماره
اطلاعات نشریه
درباره نشریه
هیات تحریریه
اهداف و زمینه‌ها
اخبار نشریه
برای نویسندگان
راهنمای نگارش مقاله
راهنمای ارسال مقاله
فرم ارسال مقاله
فرم تعارض منافع
فرم تعهدنامه
برای داوران
راهنمای داوران
ثبت نام و اشتراک
اطلاعات ثبت نام
فرم ثبت نام
تماس با ما
اطلاعات تماس
فرم برقراری ارتباط
تسهیلات پایگاه
راهنمای صفحات
جستجو در پایگاه
صفحه پرسش‌های متداول
صفحه برترین‌های پایگاه
اطلاع‌رسانی به دوستان
بایگانی مقالات زیر چاپ
اصول اخلاقی نشریه
::
شناسنامه نشریه
صاحب امتیاز

دانشگاه خوارزمی

مدیرمسئول

دکتر محمدحسین مجلس آرا

سردبیر

دکتر محمد اسمعیل عظیم عراقی

شاپا چاپی

2588-493X

شاپا الکترونیکی

2588-4921

..
جستجو در پایگاه

جستجوی پیشرفته
..
دریافت اطلاعات پایگاه
نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه، در کادر زیر وارد کنید.
..
:: دوره 1، شماره 1 - ( پاییز و زمستان 1395 ) ::
جلد 1 شماره 1 صفحات 50-41 برگشت به فهرست نسخه ها
بررسی تجربی ثابت‌های اپتیکی ویفرسیلیکان با استفاده از طیف بازتاب نور در بازۀ ‌انرژی eV 5-2
طاهره سادات سیدی آرانی ، فاطمه شهشهانی ، رضا ثابت داریانی ، بتول سجاد ، سیده زهرا شورشینی
چکیده:   (1903 مشاهده)
در این مقاله ضریب شکست، ضریب جذب و ثابت‌های دی‌الکتریک ویفر سیلیکان نوع p  با جهت (100) با استفاده از طیف بازتاب نور از سطح سیلیکان به‌طور تجربی بررسی شده است. بررسی خواص اپتیکی این ویفر که به‌عنوان زیرلایۀ موج‌بر نوری استفاده می‌شود اهمیت ویژه‌ای دارد. ثابت‌های اپتیکی ویفر سیلیکان با استفاده از روش کرامرزکرونیگ و داده‌های تجربی طیف بازتاب، محاسبه ‌شده و سپس نتایج با داده‌­های چند مرجع مقایسه شده است. نتایج، توافق خوبی بین ثابت‌های اپتیکی مراجع و داده‌های تجربی طیف بازتاب و محاسبه شده برای نمونۀ موجود در آزمایشگاه به روش کرامرز-کرونیگ وجود دارد.
واژه‌های کلیدی: ثابت‌های اپتیکی، ویفر سیلیکان، طیف بازتاب، روش کرامرز - کرونیگ.
متن کامل [PDF 694 kb]   (1787 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصي
دریافت: 1396/8/6 | پذیرش: 1396/8/6 | انتشار: 1396/8/6
ارسال نظر درباره این مقاله
نام کاربری یا پست الکترونیک شما:

CAPTCHA



XML   English Abstract   Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

seyedi arani T S, shahshahani F, sabet dariani R, sajad B, shoorshini S Z. Experimental Analysis of Optical Constants of Silicon Wafer by Reflection Spectrum in the Energy Range of 2-5 eV. Journal title 2017; 1 (1) :41-50
URL: http://jmrph.khu.ac.ir/article-1-28-fa.html

سیدی آرانی طاهره سادات، شهشهانی فاطمه، ثابت داریانی رضا، سجاد بتول، شورشینی سیده زهرا. بررسی تجربی ثابت‌های اپتیکی ویفرسیلیکان با استفاده از طیف بازتاب نور در بازۀ ‌انرژی eV 5-2. عنوان نشریه. 1395; 1 (1) :41-50

URL: http://jmrph.khu.ac.ir/article-1-28-fa.html



بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.
دوره 1، شماره 1 - ( پاییز و زمستان 1395 ) برگشت به فهرست نسخه ها
پژوهش های نوین فیزیک Journal Modern Research Physics
Persian site map - English site map - Created in 0.11 seconds with 38 queries by YEKTAWEB 4645